NJY2-DZ3320A型差熱分析儀|氧化誘導(dǎo)期分析儀
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產(chǎn)品名稱: NJY2-DZ3320A型差熱分析儀|氧化誘導(dǎo)期分析儀
產(chǎn)品型號: NJY2-DZ3320A型
產(chǎn)品展商: ghitest
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簡單介紹
差熱分析是在程序控制溫度下，測量物質(zhì)與參比物之間的溫度差與溫度關(guān)系的一種。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)隨溫度或時(shí)間的變化關(guān)系。在DTA試驗(yàn)中，樣品溫度的變化是由于相轉(zhuǎn)變或反應(yīng)的吸熱或放熱效應(yīng)引起的。如：相轉(zhuǎn)變，熔化，結(jié)晶結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)變，沸騰，升華，蒸發(fā)，脫氫反應(yīng)，斷裂或分解反應(yīng)，氧化或還原反應(yīng)，晶格結(jié)構(gòu)的破壞和其他化學(xué)反應(yīng)。
NJY2-DZ3320A型差熱分析儀|氧化誘導(dǎo)期分析儀
的詳細(xì)介紹
差熱分析儀產(chǎn)品簡介:
差熱分析是在程序控制溫度下，測量物質(zhì)與參比物之間的溫度差與溫度關(guān)系的一種。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)隨溫度或時(shí)間的變化關(guān)系。在DTA試驗(yàn)中，樣品溫度的變化是由于相轉(zhuǎn)變或反應(yīng)的吸熱或放熱效應(yīng)引起的。如：相轉(zhuǎn)變，熔化，結(jié)晶結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)變，沸騰，升華，蒸發(fā)，脫氫反應(yīng)，斷裂或分解反應(yīng)，氧化或還原反應(yīng)，晶格結(jié)構(gòu)的破壞和其他化學(xué)反應(yīng)。
差熱分析儀參數(shù):
溫度范圍:室溫~1150℃
量程范圍:0～±2000μV
DTA精度:±0.1μV
升溫速率:1～80℃/min
溫度分辨率:0.1℃
溫度準(zhǔn)確度:±0.1℃
溫度重復(fù)性:±0.1℃
溫度控制:
升 溫:程序控制 可根據(jù)需要進(jìn)行參數(shù)的調(diào)整
降 溫:風(fēng)冷 程序控制
恒溫：程序控制 恒溫時(shí)間**設(shè)定
爐體結(jié)構(gòu):爐體采用上開蓋式結(jié)構(gòu)，代替了**的升降爐體，精度高，易于操作
氣氛控制:內(nèi)部程序自動切換
數(shù)據(jù)接口:標(biāo)準(zhǔn)USB接口 配套數(shù)據(jù)線和操作軟件
顯示方式:24bit色 7寸 LCD觸摸屏顯示
參數(shù)標(biāo)準(zhǔn):配有標(biāo)準(zhǔn)物，帶有一鍵校準(zhǔn)功能，用戶可自行對溫度進(jìn)行校正
基線調(diào)整:用戶可通過基線的斜率和截距來調(diào)整基線
工作電源:AC220V 50Hz
差熱分析儀標(biāo)準(zhǔn)配置:
主機(jī) 一臺
說明書 一份
合格證 一份
光盤 一張
電源線 一根
數(shù)據(jù)線 一根
備注：安裝調(diào)試需訂貨時(shí)需提前說明！