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產品名稱: JKXT-VI硅材料測試儀_硅材料電阻率測試儀
產品型號: JKXT-VI
產品展商: ghitest
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簡單介紹
硅材料電阻率測試儀是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率,適用于半導體及太陽能行業的硅料,硅棒硅塊硅片的電阻率型號測試。
JKXT-VI硅材料測試儀_硅材料電阻率測試儀
的詳細介紹
硅材料測試儀簡介:
硅材料電阻率測試儀是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率,適用于半導體及太陽能行業的硅料,硅棒硅塊硅片的電阻率型號測試。
硅材料電阻率測試儀體積小,精度高,測量范圍寬,運用四探針原理能夠測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻。本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。
硅材料測試儀特點:
適中的體積和便攜性,便攜式,使用9V供電。
操作簡單,測試快速。
同時檢測硅半導體材料的電阻率和型號兩項指標。
硅材料電阻率測試儀采用220V交流電源供電硅材料綜合測試儀。
擁有較高的電阻率測試分辨率,可到0.001 歐姆.厘米”。
能的分辨電阻率在0.002 歐姆.厘米以上的硅半導體材料型號。
*立的P/N 型重摻告警設置,便于工廠大規??焖龠x料。
具有電阻率及型號測試功能,適合分選型號,并能夠測試并顯示出電阻率的值。
預設樣片厚度,自動修正,直讀電阻率
報警門限預設0-1.0,按0.1步進,0不報警
整機尺寸:92×140×24 mm
電阻率:0.01-50歐姆厘米
P/N型號:0.1歐姆厘米<電阻率<500歐姆厘米